|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
MIPS 2.0 - Microscopy Image Processing Software |
|
|
|
|
|
FLAT - FIELD KOREKCE |
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
Image / Correction / Flat-Field Při zpracovávání obrazových dat z digitálního mikroskopu je často problém s nerovnoměrným osvětlením podložky, která je umístěná pod snímaným objektem. Pomocí Flat-Field korekce lze tento nežádoucí jev omezit. Nejdříve je potřeba získat snímek požadovaného objektu Io, včetně nehomogenního pozadí. Potom posuneme sklíčko pod mikroskopem a nasnímáme pouze pozadí If. Nakonec zakryjeme okulár a nasnímáme snímek za tmy Ib. Následující vztah popisuje princip Flat-Field korekce. Konstantou Io měníme kontrast výsledného obrazu, If je výsledný obraz. Použitím snímku Ib odstraníme chyby způsobené nelinearitou obrazového snímače. Nemáme-li k dispozici tento snímek, postačí použít nulové pole (černá plocha) o velikosti snímku Io. Po zvolení všech tří snímků se vypočte Flat-field korekce a zobrazí se výsledný obraz. Můžeme také měnit výstupní dynamický rozsah obrazu - konstanta M z předchozího vztahu.
Náhled
Příklad 1
Příklad 2
Příklad 3
Příklad 4
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
© 2000-2005, Václav
Gerla, Ing.
Jiří Hozman,
Martin Pop. V případě
problémů či dotazů napište.
Aktualizace 